薄膜自動測厚儀一種適用于0-2mm(其他量程可定制)的各種薄膜、紙張、紙板以及其他片狀材料厚度的測量的儀器.

     主要參數(shù)：
     儀器型號：CHY-U
     測量范圍:0-2mm （其他量程可定制）
     分辨率 :0.1um
     測量速度:10 次/分（可調(diào)）
     測量壓力:17.5±1kPa（薄膜）；100±1kPa（紙張）
     接觸面積:50mm2（薄膜），200mm2（紙張）    注：薄膜、紙張任選一種
     進樣步矩:0 ～ 1300 mm(可調(diào))
     進樣速度 :0 ～ 120 mm/s(可調(diào))
     外形尺寸:450mm×340mm×390mm
     重量:23kg

     應用范圍：
     薄膜自動測厚儀主要對薄膜、鋁箔、太陽能硅片、紙張紙板的厚度測量等，具體內(nèi)容如下：

     （1）用于薄膜、電池隔膜、電容薄膜材料等軟質(zhì)材料厚度精確測量。

      （2）對金屬箔片等硬質(zhì)材料厚度精確測量。

      （3）接觸式測試原理更有效的檢測出太陽能硅片上每個點的厚度值

      （4）通過調(diào)節(jié)測量頭可完整紙張規(guī)定的壓力和面積，完整各種紙張、紙板材料厚度測試。

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