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電子元器件密封測(cè)試儀【電子元器件檢漏儀】
簡(jiǎn)要描述：電子元器件密封測(cè)試儀主要用于檢測(cè)電子元器件或其他元器件密封性能測(cè)試。
產(chǎn)品型號(hào)：
所屬分類：密封性測(cè)試儀
更新時(shí)間：2024-05-26
廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
詳情介紹
電子元器件密封測(cè)試儀 MFY-05
電子元器件密封測(cè)試儀 符合標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 15171
電子元器件密封測(cè)試儀 技術(shù)特征：
1. 微電腦控制、PVC操作面板
2. 數(shù)字預(yù)置試驗(yàn)真空度及真空保持時(shí)間
3. 專業(yè)氣動(dòng)元件
4. 自動(dòng)恒壓補(bǔ)氣
5. 自動(dòng)結(jié)束試驗(yàn)
6. 自動(dòng)反吹卸載
電子元器件密封測(cè)試儀 技術(shù)參數(shù)：
1. 真空度：0~-90KPA
2. 真空誤差：1級(jí)
3. 真空保持時(shí)間： 0.1-60min
4. 進(jìn)氣壓力：0.25—0.6 Mpa （2.5-6 kgf/cm2）
5. 真空室尺寸：Ф300×320mm（標(biāo)配）【其他尺寸可選購(gòu)】
6. 真空室壁厚：15mm
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